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光谱共焦位移传感器

觉芯电子的全自研TS-CCS系列光谱共聚焦位移传感器具有高性能、低成本、大量程等优势,可满足半导体、涂布工业、薄膜片材、运动控制等领域的非接触式位移及形貌检测需求。
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觉芯电子的全自研TS-CCS系列光谱共聚焦位移传感器具有高性能、低成本、大量程等优势,可满足半导体、涂布工业、薄膜片材、运动控制等领域的非接触式位移及形貌检测需求。具有高待测表面适用性与环境稳定性、高重复精度与线性度,且体积小巧。对透明、高反射、非固态对象检测精度远高于其他检测手段,简单配置即可实现高精度形貌检测。控制器带有丰富接口,量程及状态实时显示,可单通道、一拖二、一拖多探头同步探测。
非接触 3D 形貌扫描解决方案
觉芯电子提供非接触式高精度位移传感及形貌检测方案,基于全自研光谱共聚焦位移传感器TS-CCS系列。TS-CCS 系列光谱共焦位移传感器对待测对象表面要求低,能准确地对粗糙、湿润、倾斜的各种表面进行非接触式形貌探测。探头安装要求低、体积小巧,结合位移机构可用于各种对象的表面 3D 形貌探测。可用于涂布、印刷电路、光学表面形貌探测等多种应用场景。
 
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